Belgenin bir kopyasını isteyin

Sistem kullanıcıları, oturum açarak ilgili dokümanı görebilirler.

Oturum aç

Sorumlu personelden belgenin bir kopyasını istemek için aşağıdaki bilgileri girin.

The effect of electrons and phonons scattering from interface roughness and well-width fluctuations on low-field mobility of 2DEG in GaN/AlGaN