Gelişmiş Arama

Basit öğe kaydını göster

dc.contributor.advisorKöçkar, Hakan
dc.contributor.authorGüngör, Elif
dc.date.accessioned2020-01-29T13:13:37Z
dc.date.available2020-01-29T13:13:37Z
dc.date.issued2004en_US
dc.date.submitted2004
dc.identifier.citationGüngör, Elif. Fe ve %3 SiFe filmlerinin alttabaka ve konsantrasyonuna bağlı olarak manyetik ve yapısal özelliklerinin incelenmesi. Yayınlanmamış yüksek lisans tezi. Balıkesir Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü, 2004.en_US
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12462/10671
dc.descriptionBalıkesir Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Fizik Ana Bilim Dalıen_US
dc.description.abstractBu çalışmada, cam ve plastik kapton alt tabaka üzerine buharlaştırma ile üretilen Fe ve %3 SiFe filmlerin manyetik ve yapısal özelikleri incelenmiştir. Filmlerin manyetik karakteristikleri, Titreşimli Örnek Magnetometresi (VSM) kullanılarak yapıldı. Ölçümler, film kuarsiviteleri ve remenans oranlarının, alt tabakaya bağlı olduğunu ve kolay eksenin film düzlemi üzerinde olduğunu göstermektedir. Magneto-Optik Kerr Etki (MOKE) ölçümleri, bu sonuçları doğrulamaktadır. Filmlerin manyetik direnç ölçümleri -250 kA/m ile +250 kA/m aralığında ölçüldü. Bütün filmlerin, film tipine ve alt tabakaya bakılmaksızın, anizotropik manyetik dirence (AMR) sahip olduğu bulunmuştur. Filmlerin yapısal karakterizasyonu, 0-20 standart geometrisinde X-ışınları kırınımı (XRD) kullanılarak yapılmıştır. X-ışmları desenleri, filmlerin cisim merkezli kübik (bcc) yapıya sahip olduğunu göstermektedir. Filmlerin kompozisyon analizi Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) ile incelenmiştir. Filmlerin kaynak madde ile hemen hemen aynı kompozisyona sahip olduğu bulunmuştur. Ayrıca, optik mikroskop filmlerin yüzey morfolojisini incelemek için kullanılmıştır.en_US
dc.description.abstractIn this study, magnetic and structural properties of Fe and %3 SiFe films evaporated on glass and plastic kapton substrates have been investigated. The magnetic characteristics of films were made using a Vibrating Sample Magnetometer (VSM). The measurements show that the coercivity and remenance ratio of the films is very sensitive to the type of the substrate and the easy axis is parallel in the film plane. Magneto-Optic Kerr Effect (MOKE) measurements also confirmed these results. The magneto resistance of films were measured at -250 kA/m to +250 kA/m. It is found that all films have anisotropic magnetic resistance (AMR) irrespective of type of film and the substrates used. Structural characterisations of films were made using X-ray diffraction (XRD) in 0-20 standard geometry. X-ray patterns show that the films have body-centred cubic (bcc) structure. The composition analysis of the films was done by Scanning Electron Microscope (SEM). It is found that the films consist of approximately same composition with source material. Furthermore, the optical microscope was used to investigate the surface morphology of the film.en_US
dc.language.isoturen_US
dc.publisherBalıkesir Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsüen_US
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen_US
dc.subjectFe İnce Filmleren_US
dc.subject%3 SiFe İnce Filmleren_US
dc.subjectBuharlaştırmaen_US
dc.subjectManyetik Özellikleren_US
dc.subjectAnizotropien_US
dc.subjectAnizotropik Manyetik Dirençen_US
dc.subjectYapısal Özellikleren_US
dc.subjectFe Thin Filmsen_US
dc.subject%3 SiFe Thin Filmsen_US
dc.subjectEvaporationen_US
dc.subjectMagnetik Propertiesen_US
dc.subjectAnisotropyen_US
dc.subjectAnizotropic Magnetic Resistanceen_US
dc.subjectStructural Propertiesen_US
dc.titleFe ve %3 SiFe filmlerinin alttabaka ve konsantrasyonuna bağlı olarak manyetik ve yapısal özelliklerinin incelenmesien_US
dc.title.alternativeInvestigation of magnetic and structural properties of Fe and %3 SiFe films interms of their substrates and concentrationen_US
dc.typemasterThesisen_US
dc.contributor.departmentFen Bilimleri Enstitüsüen_US
dc.relation.publicationcategoryTezen_US


Bu öğenin dosyaları:

DosyalarBoyutBiçimGöster

Bu öğe ile ilişkili dosya yok.

Bu öğe aşağıdaki koleksiyon(lar)da görünmektedir.

Basit öğe kaydını göster